Soalan Lazim Mengenai Faktor yang Mempengaruhi Tolok Ketebalan Salutan

Nov 09, 2025

Tinggalkan pesanan

Soalan Lazim Mengenai Faktor yang Mempengaruhi Tolok Ketebalan Salutan

 

Mengapakah instrumen kadangkala mengukur dengan tidak tepat?

Ini adalah soalan yang agak umum. Terdapat pelbagai sebab untuk ketidaktepatan instrumen. Untuk tolok ketebalan salutan tunggal, terdapat beberapa sebab yang boleh menyebabkan pengukuran tidak tepat.

 

(1) Gangguan daripada medan magnet yang kuat. Kami pernah menjalankan eksperimen mudah di mana pengukuran sangat terganggu apabila instrumen beroperasi berhampiran medan elektromagnet sekitar 10000 V. Jika ia sangat dekat dengan medan elektromagnet, masih ada kemungkinan terhempas.

 

(2) Faktor manusia. Keadaan ini sering berlaku kepada pengguna baru. Sebab mengapa tolok ketebalan salutan boleh mengukur mikrometer adalah kerana ia boleh mengambil perubahan kecil dalam fluks magnet dan menukarnya kepada isyarat digital. Jika pengguna tidak biasa dengan instrumen semasa proses pengukuran, probe mungkin menyimpang dari badan yang diukur, menyebabkan perubahan dalam fluks magnet dan mengakibatkan pengukuran yang salah. Oleh itu, adalah disyorkan agar pengguna menguasai kaedah pengukuran sebelum menggunakan instrumen ini buat kali pertama. Penempatan kuar mempunyai kesan yang ketara pada pengukuran, dan kuar hendaklah disimpan berserenjang dengan permukaan sampel semasa pengukuran. Dan masa penempatan probe tidak boleh terlalu lama untuk mengelakkan gangguan dengan medan magnet substrat itu sendiri.

 

(3) Tiada substrat yang sesuai dipilih semasa penentukuran sistem. Satah kecil substrat ialah 7mm dan ketebalan kecil ialah 0.2mm. Pengukuran di bawah keadaan kritikal ini tidak boleh dipercayai.

 

(4) Kesan bahan yang melekat. Alat ini sensitif kepada bahan melekat yang menghalang probe daripada membuat sentuhan rapat dengan permukaan lapisan penutup. Oleh itu, adalah perlu untuk melampirkan bahan untuk memastikan sentuhan langsung antara probe dan permukaan lapisan penutup. Apabila melakukan penentukuran sistem, permukaan substrat yang dipilih juga mesti terdedah dan licin.

 

(5) Alat telah rosak. Pada masa ini, anda boleh berkomunikasi dengan kakitangan teknikal atau kembali ke kilang untuk dibaiki.

Mengapakah data pengukuran kadangkala menunjukkan sisihan yang ketara semasa proses pengukuran?

Semasa proses pengukuran, peletakan probe atau faktor gangguan luaran yang salah boleh mengakibatkan data pengukuran yang jauh lebih besar. Pada ketika ini, anda boleh menahan kekunci CAL untuk memasukkan data untuk mengelakkan daripada memasukkan statistik data.

 

5 EMF detector

Hantar pertanyaan