Pengenalan kepada Ciri Mikroskop Elektron Mengimbas
Mengimbas mikroskop elektron (SEM) ialah instrumen ketepatan besar yang digunakan untuk analisis morfologi kawasan mikro resolusi tinggi. Ia mempunyai ciri-ciri kedalaman medan yang besar, resolusi tinggi, pengimejan intuitif, deria tiga dimensi yang kuat, julat pembesaran yang luas, dan keupayaan untuk memutar dan mencondongkan sampel ujian dalam ruang tiga dimensi. Di samping itu, ia mempunyai kelebihan pelbagai jenis sampel yang boleh diukur, hampir tiada kerosakan atau pencemaran kepada sampel asal, dan keupayaan untuk mendapatkan maklumat morfologi, struktur, komposisi dan kristalografi secara serentak. Pada masa ini, mikroskopi elektron pengimbasan telah digunakan secara meluas dalam penyelidikan mikroskopik dalam bidang seperti sains hayat, fizik, kimia, keadilan, sains bumi, sains bahan, dan pengeluaran perindustrian. Dalam bidang sains bumi sahaja, ia merangkumi kristalografi, mineralogi, mendapan mineral, sedimentologi, geokimia, gemologi, mikrofosil, astrogeologi, geologi minyak dan gas, geologi kejuruteraan, dan geologi struktur.
Walaupun pengimbasan mikroskop elektron adalah pendatang baru dalam keluarga mikroskop, kelajuan perkembangannya sangat cepat kerana banyak kelebihannya.
Instrumen ini mempunyai resolusi tinggi dan boleh melihat butiran kira-kira 6nm pada permukaan sampel melalui pengimejan elektron sekunder. Dengan menggunakan senapang elektron LaB6, ia boleh dipertingkatkan lagi kepada 3nm.
Instrumen mempunyai pelbagai perubahan pembesaran dan boleh dilaraskan secara berterusan. Oleh itu, saiz medan pandangan yang berbeza boleh dipilih untuk pemerhatian mengikut keperluan, dan imej yang jelas dengan kecerahan tinggi yang sukar dicapai dengan mikroskop elektron penghantaran am juga boleh diperolehi pada pembesaran tinggi.
Kedalaman medan dan medan pandangan sampel adalah besar, dan imej itu kaya dengan deria tiga dimensi. Ia boleh memerhati secara langsung permukaan kasar dengan beralun besar dan imej patah logam yang tidak sekata bagi sampel, memberikan orang ramai rasa berada dalam dunia mikroskopik.
Penyediaan 4 sampel adalah mudah. Selagi sampel blok atau serbuk dirawat sedikit atau tidak dirawat, ia boleh diperhatikan secara langsung di bawah mikroskop elektron pengimbasan, yang lebih dekat dengan keadaan semula jadi bahan.
5. Kualiti imej boleh dikawal dan dipertingkatkan dengan berkesan melalui kaedah elektronik, seperti penyelenggaraan automatik kecerahan dan kontras, pembetulan sudut kecondongan sampel, putaran imej, atau peningkatan toleransi kontras imej melalui modulasi Y, serta kecerahan dan kegelapan yang sederhana dalam pelbagai bahagian imej. Dengan menggunakan peranti pembesaran dwi atau pemilih imej, imej dengan pembesaran berbeza boleh diperhatikan serentak pada skrin pendarfluor.
6 boleh tertakluk kepada analisis komprehensif. Pasang spektrometer sinar-X penyebaran panjang gelombang (WDX) atau spektrometer sinar-X penyebaran tenaga (EDX) untuk membolehkannya berfungsi sebagai probe elektron dan mengesan elektron yang dipantulkan, sinar-X, katodoluminesensi, elektron yang dihantar, elektron Auger, dsb. oleh sampel. Memperluaskan aplikasi mikroskopi elektron pengimbasan kepada pelbagai kaedah analisis kawasan mikroskopik dan mikro telah menunjukkan kepelbagaian fungsi mikroskopi elektron pengimbasan. Di samping itu, ia juga mungkin untuk menganalisis kawasan mikro terpilih sampel sambil memerhati imej morfologi; Dengan memasang lampiran pemegang sampel semikonduktor, persimpangan PN dan kecacatan mikro dalam transistor atau litar bersepadu boleh diperhatikan secara langsung melalui penguat imej daya gerak elektrik. Disebabkan oleh pelaksanaan kawalan automatik dan separa automatik komputer elektronik untuk banyak probe elektron mikroskop elektron pengimbasan, kelajuan analisis kuantitatif telah bertambah baik.
