Aplikasi Mikroskop Metalografik dalam Pelbagai Industri

Nov 24, 2025

Tinggalkan pesanan

Aplikasi Mikroskop Metalografik dalam Pelbagai Industri

 

Asalnya berasal daripada metalografi, tujuan utamanya adalah sebagai instrumen profesional untuk memerhati struktur metalografi. Ia adalah mikroskop yang direka khusus untuk memerhati struktur metalografi objek legap seperti logam dan mineral. Objek legap ini tidak boleh diperhatikan dalam mikroskop cahaya transmisi biasa, jadi perbezaan utama antara emas dan mikroskop biasa ialah yang pertama diterangi oleh cahaya yang dipantulkan, manakala yang kedua diterangi oleh cahaya yang dihantar.

 

Mikroskop metalografik mempunyai ciri-ciri kestabilan yang baik, pengimejan yang jelas, resolusi tinggi, dan bidang pandangan yang besar dan rata. Ia bukan sahaja boleh melakukan pemerhatian mikroskopik pada kanta mata, tetapi juga memerhati-imej dinamik masa sebenar pada skrin paparan komputer (kamera digital) dan boleh mengedit, menyimpan dan mencetak imej yang diperlukan. Ia digunakan terutamanya dalam perkakasan, penghirisan, komponen IC, LCD/LED dan bidang lain.

Kerana terdapat lima jenis kanta mikroskop metalografi: EPI pendarfluor medan terang; BD medan terang dan gelap; SLWD jarak kerja ultra panjang; ELWD mengukuhkan jarak kerja; Dilengkapi dengan cincin pembetulan. Dalam industri perkakasan, beberapa komponen perkakasan dengan pantulan teruk boleh diperhatikan menggunakan kanta BD dengan medan terang dan gelap. Contohnya, dalam industri LCD, apabila memerhati dan mengukur zarah konduktif, mikroskop metalografik juga boleh dipasangkan dengan DIC untuk menjadikan objek kelihatan lebih tiga-dimensi. Kerana ia terpolarisasi, teknik pemerhatian mikroskopik yang menggunakan dua set penapis warna untuk membentuk cahaya terpolarisasi. Berdasarkan sifat birefringencenya, arah laluan optik boleh diubah. Sudah tentu, cahaya terkutub hanya boleh digunakan bersama DIC dan mempunyai sedikit kepentingan sendiri. Mikroskop metalografik digunakan untuk mengukur dan menganalisis dimensi kecil seperti komponen IC dan bahagian metalografik. Ia boleh diukur menggunakan perisian pintar Iview SIMS, yang mempunyai ketepatan yang tinggi dan berkesan mengurangkan ralat pengukuran manusia. Mudah dipelajari dan digunakan, ia boleh dengan mudah mengukur dan menganalisis dimensi yang berkaitan seperti titik, garisan, lengkok, separuh meridian, meridian lurus, sudut, dll., dengan mudah mengambil gambar ukuran dan menyesuaikan pelbagai laporan ujian

 

4 Larger LCD digital microscope

Hantar pertanyaan