Kaedah untuk Menguji Kualiti Transistor dengan Multimeter
Mula-mula, sambungkan multimeter ke terminal diod ujian. Gunakan probe merah multimeter untuk menyentuh salah satu pin transistor, dan gunakan probe multimeter yang lain untuk menguji pin yang tinggal sehingga keputusan berikut diperoleh:
1. Jika kuar hitam transistor disambungkan ke salah satu pinnya, dan dua pin yang lain kedua-duanya mengalir dengan paparan voltan apabila diukur dengan kuar merah, maka transistor ini ialah transistor PNP, dan pin yang disambungkan kepada kuar hitam ialah tapak B transistor. Apabila diuji menggunakan kaedah di atas, jika voltan probe merah multimeter yang disambungkan ke salah satu pinnya lebih tinggi sedikit, maka pin ini adalah pemancar E transistor, dan baki pin dengan voltan yang lebih rendah ialah pengumpul C.
2. Jika kuar merah transistor disambungkan ke salah satu pinnya dan dua pin yang lain kedua-duanya mengalir dengan paparan voltan apabila diukur dengan kuar hitam, maka transistor ini ialah transistor NPN, dan pin yang disambungkan kepada kuar merah ialah tapak B transistor. Apabila diuji menggunakan kaedah di atas, jika voltan probe hitam multimeter yang disambungkan ke salah satu pinnya lebih tinggi sedikit, maka pin ini adalah pemancar E transistor, dan baki pin dengan voltan yang lebih rendah ialah pengumpul C.
Kaedah lain ialah menggunakan gear hFE untuk penghakiman. Selepas menentukan jenis asas dan transistor transistor, masukkan tapak transistor ke dalam lubang ukuran nilai Lu mengikut kedudukan tapak dan jenis transistor, dan masukkan dua pin lain ke dalam mana-mana dua daripada tiga lubang ukuran yang tinggal. Perhatikan saiz data pada skrin paparan, cari pengumpul dan pemancar transistor, tukar kedudukan, dan kemudian ukur semula. Perhatikan nilai pada skrin paparan, ulangi pengukuran empat kali, dan bandingkan dan amati. Nilai maksimum yang diukur ialah faktor penguatan semasa transistor, yang sepadan dengan elektrod pengumpul dan pemancar transistor.
