Kaedah untuk Menilai Keadaan Komponen dengan Multimeter:
1. Pengesanan diod biasa
Ukur dengan multimeter MF47, sambungkan kuar merah dan hitam ke kedua-dua hujung diod, baca bacaan, dan kemudian tukar kuar untuk pengukuran. Berdasarkan keputusan dua ukuran, nilai rintangan hadapan bagi diod germanium kuasa rendah-biasanya ialah 300-500 Ω, manakala diod silikon ialah kira-kira 1k Ω atau lebih besar. Rintangan songsang tiub germanium ialah beberapa puluh kiloohms, dan rintangan songsang tiub silikon adalah melebihi 500k Ω (nilai diod kuasa tinggi jauh lebih kecil). Diod yang baik mempunyai rintangan hadapan yang rendah dan rintangan songsang yang tinggi, dan lebih besar perbezaan rintangan hadapan dan belakang, lebih baik. Jika rintangan ke hadapan dan belakang yang diukur adalah sangat kecil dan hampir kepada sifar, ia menunjukkan bahawa diod dilitar pintas secara dalaman; Jika rintangan hadapan dan belakang adalah sangat tinggi atau cenderung kepada infiniti, ia menunjukkan bahawa terdapat litar terbuka di dalam tiub. Dalam kedua-dua kes, diod perlu dibuang.
Ujian di jalan raya: Menguji rintangan hadapan dan belakang persimpangan pn diod memudahkan untuk menentukan sama ada diod mengalami litar pintas rosak atau litar terbuka.
2. Pengesanan simpang Pn
Tetapkan multimeter digital kepada mod diod dan ukur simpang pn dengan probe. Jika ia mengalir dalam arah hadapan, nombor yang dipaparkan ialah penurunan voltan hadapan simpang pn. Pertama, tentukan elektrod pengumpul dan pemancar; Ukur susutan voltan hadapan dua simpang pn dengan kuar. Pemancar mempunyai penurunan voltan tertinggi, manakala pengumpul mempunyai penurunan voltan terendah. Apabila menguji dua simpang, jika kuar merah disambungkan ke elektrod biasa, transistor yang diuji adalah jenis npn, dan kuar merah disambungkan ke tapak b. Jika kuar hitam disambungkan kepada elektrod biasa, transistor yang diuji adalah daripada jenis pnp, dan elektrod ini ialah tapak b. Selepas transistor rosak, simpang pn boleh mempunyai dua situasi: litar pintas kerosakan dan litar terbuka.
Dalam ujian litar: Dalam ujian litar transistor sebenarnya dicapai dengan menguji rintangan hadapan dan belakang simpang pn untuk menentukan sama ada transistor rosak. Rintangan cawangan adalah lebih besar daripada rintangan hadapan simpang pn. Biasanya, perlu ada perbezaan yang ketara dalam rintangan hadapan dan belakang yang diukur, jika tidak, persimpangan pn akan rosak. Apabila rintangan cawangan kurang daripada rintangan hadapan simpang pn, cawangan harus diputuskan, jika tidak, kualiti transistor tidak dapat ditentukan.
3. Pengesanan modul jambatan penerus tiga fasa
Mengambil modul jambatan penerus Semikron sebagai contoh, seperti yang ditunjukkan dalam rajah yang dilampirkan. Tetapkan multimeter digital kepada mod ujian diod, sambungkan kuar hitam ke com dan kuar merah ke v ω, dan gunakan kuar merah dan hitam untuk mengukur ciri-ciri diod hadapan dan belakang antara fasa 3, 4, dan 5 serta kutub 2 dan 1, masing-masing, untuk memeriksa dan menentukan sama ada jambatan penerus adalah utuh. Lebih besar perbezaan dalam ciri positif dan negatif yang diukur, lebih baik; Jika arah hadapan dan belakang adalah sifar, ia menunjukkan bahawa fasa yang dikesan telah rosak dan litar pintas; Jika kedua-dua arah hadapan dan belakang adalah tidak terhingga, ia menunjukkan bahawa fasa yang dikesan telah diputuskan sambungan. Jika satu fasa modul jambatan penerus rosak, ia perlu diganti.
4. Pengesanan modul IGBT penyongsang
Tetapkan multimeter digital kepada mod ujian diod dan uji ciri diod hadapan dan belakang antara modul IGBT c1. e1 dan c2. e2, serta antara get g dan e1, e2, untuk menentukan sama ada modul IGBT adalah utuh.
