Aplikasi dan Ciri Utama Mikroskop Elektron Penghantaran
Mikroskop Elektron Penghantaran (TEM) ialah mikroskop -tinggi yang digunakan untuk memerhati struktur dalaman sampel. Ia menggunakan pancaran elektron untuk menembusi sampel dan membentuk imej yang diunjurkan, yang kemudiannya ditafsir dan dianalisis untuk mendedahkan struktur mikro sampel.
1. Sumber elektronik
TEM menggunakan pancaran elektron dan bukannya pancaran cahaya. Mikroskop elektron penghantaran siri Talos yang dilengkapi dalam Jifeng Electronics MA Laboratory menggunakan senapang elektron-kecerahan tinggi ultra, manakala mikroskop elektron penghantaran penyimpangan sfera HF5000 menggunakan senapang elektron medan sejuk.
2. Sistem vakum
Untuk mengelakkan interaksi antara pancaran elektron dan gas sebelum melalui sampel, keseluruhan mikroskop mesti dikekalkan di bawah keadaan vakum yang tinggi.
3. Sampel penghantaran
Sampel mestilah telus, bermakna pancaran elektron boleh menembusinya, berinteraksi dengannya, dan membentuk imej yang ditayangkan. Biasanya, ketebalan sampel berjulat dari nanometer hingga submikron. Jifeng Electronics dilengkapi dengan berdozen Helios 5 siri FIB untuk menyediakan -sampel TEM ultra-nipis berkualiti tinggi.
4. Sistem penghantaran elektronik
Rasuk elektron difokuskan melalui sistem penghantaran. Kanta ini serupa dengan yang terdapat dalam mikroskop optik, tetapi disebabkan oleh panjang gelombang elektron yang jauh lebih pendek berbanding dengan gelombang cahaya, keperluan reka bentuk dan pembuatan untuk kanta adalah lebih tinggi.
5. Seperti kapal terbang
Selepas melalui sampel, pancaran elektron memasuki satah imej. Pada satah ini, maklumat pancaran elektron ditukar kepada imej dan ditangkap oleh pengesan.
6. Pengesan
Pengesan yang paling biasa ialah skrin pendarfluor, kamera CCD (Charge Coupled Device) atau kamera CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor). Apabila pancaran elektron berinteraksi dengan skrin pendarfluor pada satah imej, cahaya boleh dilihat dijana, membentuk imej unjuran sampel, yang biasanya digunakan untuk mencari sampel. Disebabkan oleh fakta bahawa skrin pendarfluor perlu digunakan dalam persekitaran bilik gelap dan tidak mesra pengguna,-pengilang kini memasang kamera di atas sisi skrin pendarfluor, membolehkan operator TEM memerhati paparan dalam persekitaran yang terang untuk mencari sampel, condongkan paksi tali pinggang dan melakukan operasi lain. Peningkatan yang tidak ketara ini adalah asas untuk mencapai-pemisahan mesin manusia.
7. Membentuk imej
Apabila pancaran elektron melalui sampel, ia berinteraksi dengan atom dan struktur kristal di dalam sampel, menyerak dan menyerap. Berdasarkan interaksi ini, keamatan pancaran elektron akan membentuk imej pada satah imej. Imej ini kesemuanya ialah imej unjuran dua-dimensi, tetapi struktur dalaman sampel selalunya tiga-dimensi, jadi perhatian khusus harus diberikan kepada perkara ini apabila menganalisis maklumat terperinci di dalam sampel.
8. Analisis dan Penjelasan
Dengan memerhati dan menganalisis imej, penyelidik boleh memahami maklumat struktur mikro sampel, seperti struktur kristal, parameter kekisi, kecacatan kristal, susunan atom, dll. Jifeng mempunyai pasukan analisis bahan profesional yang boleh menyediakan pelanggan dengan penyelesaian analisis proses penuh dan laporan analisis bahan profesional.
