Pembinaan mikroskop dan kegunaannya
Mikroskop ialah alat optik yang terdiri daripada kanta atau gabungan beberapa kanta. Ia adalah simbol kemasukan manusia ke zaman atom. Alat yang digunakan untuk membesarkan objek kecil menjadi kelihatan kepada mata manusia. Mikroskop terbahagi kepada mikroskop optik dan mikroskop elektron. Mikroskop optik berada dalam 1590 oleh bapa Janssen Belanda dan anak kepada yang pertama. Pada masa kini, mikroskop optik boleh membesarkan objek 1500 kali, dan had minimum resolusi ialah 0.2 mikron.
Terdapat banyak jenis mikroskop optik, sebagai tambahan kepada umum, terdapat: ① mikroskop medan gelap, cermin tompok medan gelap, supaya pencahayaan rasuk tidak datang dari bahagian tengah spesimen, tetapi dari empat sisi mikroskop kepada spesimen. ② mikroskop pendarfluor, cahaya ultraviolet sebagai sumber cahaya, supaya objek yang disinari memancarkan mikroskop pendarfluor. Mikroskop elektron pertama kali dipasang pada tahun 1931 di Berlin, Jerman oleh Knorr dan Haroska. Mikroskop ini menggunakan pancaran elektron berkelajuan tinggi dan bukannya pancaran cahaya. Oleh kerana panjang gelombang aliran elektron jauh lebih pendek daripada gelombang cahaya, pembesaran mikroskop elektron boleh mencapai 800,000 kali, dan had minimum resolusi mencapai 0.2 nm. Mikroskop elektron pengimbasan, yang mula digunakan pada tahun 1963, boleh membolehkan orang ramai melihat struktur kecil pada permukaan objek.
■ Kegunaan Utama
Mikroskop digunakan untuk membesarkan imej objek kecil. Biasanya digunakan dalam biologi, perubatan, zarah mikroskopik dan pemerhatian lain.
Struktur mikroskop optik
Struktur mikroskop optik biasa dibahagikan kepada tiga bahagian: bahagian mekanikal, bahagian pencahayaan dan bahagian optik.
Bahagian mekanikal
(1) Tapak cermin: Ia adalah asas mikroskop, yang digunakan untuk menyokong seluruh badan cermin.
(2) Lajur cermin: Ia adalah bahagian tegak di atas tapak cermin, yang digunakan untuk menyambungkan tapak cermin dan lengan cermin.
(3) Lengan cermin: satu hujung disambungkan ke lajur cermin dan hujung yang satu lagi disambungkan ke tiub cermin, iaitu bahagian pegangan tangan semasa mengambil dan meletakkan mikroskop.
(4) Tiub cermin: dilekatkan pada bahagian hadapan atas lengan cermin, hujung atas tiub cermin dilengkapi dengan kanta mata, hujung bawah tiub cermin dilengkapi dengan penukar kanta objektif.
(5) Penukar objektif (pemutar): disambungkan ke bahagian bawah cengkerang prisma, boleh diputar secara bebas, terdapat 3-4 lubang pada cakera, adalah pemasangan bahagian objektif, pusingkan penukar, anda boleh menukar kepada gandaan berbeza bagi kanta objektif, apabila anda mendengar bunyi menyentuh bunyi ketukan, sebelum anda boleh memerhati, pada masa ini paksi optik kanta objektif betul-betul sejajar dengan pusat lubang telus, laluan optik adalah bersambung.
(6) peringkat cermin (peringkat pembawa): di bawah laras, bentuk persegi, bulat dua jenis, untuk meletakkan spesimen slaid, bahagian tengah lubang cahaya, mikroskop yang kami gunakan dilengkapi dengan baling spesimen slaid (penolak ), kipas di sebelah kiri klip spring, digunakan untuk mengapit spesimen slaid, peringkat cermin di bawah roda boleh laras kipas, spesimen slaid boleh digerakkan ke arah kiri dan kanan, ke hadapan dan ke belakang.
(7) Pelaras: Ia adalah lingkaran dua saiz yang dipasang pada lajur cermin, yang menggerakkan meja cermin ke atas dan ke bawah apabila ia dilaraskan.
(1) Pengawal selia kasar (lingkaran kasar): lingkaran besar dipanggil pengawal selia kasar, menggerakkan pentas cermin untuk pengangkatan pantas dan besar-besaran, jadi ia boleh dengan cepat melaraskan jarak antara kanta objektif dan spesimen untuk membuat objek dibentangkan di lapangan pandangan, biasanya dalam penggunaan pembesaran rendah, penggunaan pertama pengawal selia kasar untuk mencari objek dengan cepat.
② pelaras halus (lingkaran halus): lingkaran kecil dipanggil pelaras halus, menggerakkan pentas cermin boleh dinaikkan dan diturunkan perlahan-lahan, kebanyakannya digunakan dalam penggunaan pembesaran tinggi, untuk mendapatkan imej yang lebih jelas, dan untuk memerhatikan tahap yang berbeza spesimen dan kedalaman struktur yang berbeza.
