Perbezaan antara FN dalam tolok ketebalan salutan

Nov 22, 2022

Tinggalkan pesanan

Perbezaan antara FN dalam tolok ketebalan salutan


Konsep Tolok Ketebalan Salutan

Tolok ketebalan salutan boleh mengukur ketebalan salutan bukan magnet (seperti aluminium, kromium, kuprum, enamel, getah, cat, dsb.) secara tidak merosakkan salutan bukan konduktif (cth, enamel, getah, cat). , plastik, dsb.) pada substrat logam (cth, kuprum, aluminium, zink, timah, dsb.). Tolok ketebalan salutan mempunyai ciri-ciri ralat pengukuran kecil, kebolehpercayaan yang tinggi, kestabilan yang baik, dan operasi yang mudah. Ia adalah instrumen ujian yang sangat diperlukan untuk mengawal dan memastikan kualiti produk. Ia digunakan secara meluas dalam pembuatan, pemprosesan logam, industri kimia, pemeriksaan Komoditi dan bidang ujian lain.

Ciri-ciri Tolok Ketebalan Salutan

* Ia menggunakan probe terbina dalam dwi-fungsi untuk mengenal pasti secara automatik bahan matriks ferus atau bukan ferus, dan memilih kaedah pengukuran yang sepadan untuk pengukuran.

* Struktur dwi-paparan yang direka bentuk secara ergonomik, data pengukuran boleh dibaca pada sebarang kedudukan pengukuran.

* Kaedah pemilihan fungsi gaya menu telefon mudah alih diterima pakai, dan operasinya sangat mudah.

* Nilai had atas dan bawah boleh ditetapkan. Apabila hasil pengukuran melebihi atau memenuhi nilai had atas dan bawah, instrumen akan mengeluarkan bunyi yang sepadan atau lampu berkelip untuk digesa.

* Kestabilan tinggi, biasanya boleh digunakan untuk masa yang lama tanpa penentukuran.

spesifikasi teknikal

Julat ukuran: 0-2000μm,

Bekalan kuasa: dua bateri AA

Konfigurasi standard


Perbezaan antara FN dalam tolok ketebalan salutan


F bermaksud substrat feromagnetik ferus. Tolok ketebalan salutan jenis F menggunakan prinsip aruhan elektromagnet untuk mengukur salutan dan salutan bukan feromagnetik pada substrat logam feromagnetik seperti keluli dan besi, seperti: cat, serbuk, plastik, getah, bahan sintetik, lapisan fosfat, kromium, zink, plumbum, aluminium, timah, kadmium, porselin, enamel, lapisan oksida, dll.

N bermaksud substrat bukan ferus bukan ferus. Tolok ketebalan lapisan N-jenis mengamalkan prinsip arus pusar; untuk mengukur enamel, getah, cat, lapisan plastik, dsb. pada kuprum, aluminium, zink, timah dan substrat lain dengan penderia arus pusar.

Tolok ketebalan salutan jenis FN mengguna pakai kedua-dua prinsip aruhan elektromagnet dan prinsip arus pusar. Ia adalah tolok ketebalan lapisan dua dalam satu jenis F dan jenis N. Gunakan lihat di atas. Tolok ketebalan magnetik dengan probe F;

FN merujuk kepada tolok ketebalan salutan dua dalam satu guna magnet dan arus pusar dengan dua probe.

Model Produk: (Tolok Ketebalan Salutan dengan Sensor Split)

Fungsi: Ukur ketebalan salutan bukan magnet pada objek magnet dan salutan tidak konduktif pada substrat logam bukan magnet

Kaedah pengukuran: F aruhan magnet NF arus pusar

Julat ukuran: 0-1250um/0-50mil (julat standard)

Permukaan melengkung minimum: F: cembung 1.5mm/ cekung 25mm N: cembung 3mm/ cekung 50mm

Penyelesaian: 0.1/1

Kawasan ukuran terkecil: 6mm

Substrat paling nipis: 0.3mm

Penutupan automatik

Gunakan persekitaran: Suhu: 0-40 darjah Kelembapan: 10-90 peratus RH

Ketepatan: ±(1-3 peratus n) atau ±2um

Metrik/Imperial: Pilihan

Bekalan kuasa: 4 bateri AAA

Petunjuk voltan bateri: gesaan voltan rendah

Dimensi keseluruhan: 126X65X27mm

Berat: 81g (tidak termasuk bateri)

1 RS-232 atau kabel dan perisian dalam talian

2. Julat boleh disesuaikan (penderia julat besar) pilihan: 0-200um hingga 18000um

Penggunaan: Gunakan penderia magnet untuk mengukur salutan dan salutan bukan feromagnetik pada substrat logam feromagnetik seperti keluli dan besi, seperti cat, serbuk, plastik, getah, bahan sintetik, lapisan fosfat, kromium, zink, plumbum, aluminium, Timah, kadmium , porselin, enamel, lapisan oksida, dsb. Gunakan penderia arus pusar untuk mengukur enamel, getah, cat, lapisan plastik, dsb. pada substrat kuprum, aluminium, zink, timah, dsb. Digunakan secara meluas dalam pembuatan, pemprosesan logam, industri kimia, pemeriksaan komoditi dan bidang ujian lain.


AR932--2

Hantar pertanyaan