Mikroskop Tegak atau Mikroskop Terbalik?
Sebelum menjawab soalan ini, adalah perlu untuk menjelaskan perbezaan antara mikroskop tegak dan mikroskop terbalik.
Mikroskop metalografik, juga dikenali sebagai mikroskop bahan, digunakan terutamanya untuk memerhatikan struktur mikro logam. Mereka boleh dibahagikan kepada mikroskop metalografi tegak dan mikroskop metalografi terbalik.
Mikroskop metalografi tegak membentuk imej semasa pemerhatian, yang membawa kemudahan besar untuk pengguna melihat dan membezakan. Kecuali untuk spesimen dengan ketinggian lebih daripada 20–30 mm, ia mematuhi tabiat pemerhatian biasa orang ramai. Oleh itu, ia digunakan secara meluas untuk memerhati bahan lutsinar, lut sinar atau legap, dengan sasaran cerapan antara 3 mikron hingga 20 mikron, seperti logam, seramik, cip elektronik, litar bercetak, substrat LCD, filem nipis, gentian, sampel zarah, salutan dan struktur permukaan bahan. Jejak boleh dipelihara dan disimpan dengan baik. Selain itu, sistem pengimejan sokongan boleh menyambung ke komputer untuk menangkap kedua-dua imej statik dan dinamik. Ia boleh dilengkapi dengan pelbagai perisian untuk memenuhi keperluan yang lebih profesional dalam metalografi, pengukuran, pengajaran dan penyelidikan saintifik. Mikroskop metalografi terbalik menggunakan kaedah pengimejan optik untuk mengenal pasti dan menganalisis struktur pelbagai logam dan aloi. Ia adalah alat penting untuk penyelidikan metalurgi fizikal. Ia digunakan secara meluas di kilang dan makmal untuk pemeriksaan penuangan, pemeriksaan bahan mentah, dan analisis struktur bahan logam selepas rawatan haba, untuk memberikan hasil analisis intuitif. Ia merupakan peralatan utama untuk pengenalpastian kualiti dalam proses penuangan, peleburan dan rawatan haba dalam industri perlombongan, metalurgi, pembuatan dan pemprosesan jentera. Dalam beberapa tahun kebelakangan ini, industri elektronik memerlukan spesimen rata pembesaran tinggi untuk menyokong pengeluaran cip. Atas sebab ini, mikroskop metalografi terbalik telah diperkenalkan ke dalam bidang ini dan terus dinaik taraf untuk memenuhi keperluan pemeriksaan khas industri. Berbeza dengan jenis terbalik, permukaan cerapan spesimen pada mikroskop metalografi tegak menghadap ke bawah dan diletakkan di atas pentas spesimen, manakala kanta objektif terletak di bawah pentas untuk cerapan ke atas. Bentuk ini tidak dihadkan oleh ketinggian spesimen, menawarkan operasi yang mudah, struktur padat dan penampilan yang menarik. Pangkalan mikroskop metalografi terbalik mempunyai kawasan sokongan yang besar dan pusat graviti rendah untuk operasi yang stabil. Tiub kanta mata condong pada 45 darjah berbanding permukaan sokongan untuk tontonan yang selesa.
