Mengesahkan Keadaan Fungsi Perintang, Kapasitor, Diod, dan Transistor Simpang Bipolar Menggunakan Multimeter
1. Kesalahan perintang (R) ialah nilai rintangan sebenar tidak sepadan dengan nilai rintangan nominal. Oleh itu, multimeter ohm boleh digunakan untuk mengukur kualiti perintang. Biasanya, kerosakan perintang ialah litar terbuka (diukur dengan multimeter dengan nilai rintangan tak terhingga), dan kerosakan litar pintas perintang sangat jarang berlaku.
2. Kesalahan biasa kapasitor (C) secara amnya boleh dikelaskan kepada dua jenis: kerosakan (litar pintas dan kebocoran yang disebabkan oleh sebab tertentu pada dua plat kapasitor (rintangan penebat kapasitor kurang daripada biasa), dan litar terbuka (teraju dalaman kapasitor diputuskan sambungan dari plat, dan kapasitor tidak mempunyai kapasiti yang lebih rendah daripada kapasiti) dan kapasitor tidak mempunyai kapasiti yang lebih rendah daripada biasa).
Pengukuran kebocoran dan kerosakan kapasitor: Tetapkan multimeter pada kedudukan X 10K (gunakan kedudukan X 1K apabila mengukur kapasitor elektrolitik), dan semasa pengukuran, penunjuk multimeter pertama berayun ke tanah ke arah di mana R ialah sifar, dan kemudian berundur ke arah di mana R adalah tak terhingga. Selepas penunjuk menstabilkan, nilai rintangan yang ditunjukkan ialah rintangan penebat kapasitor (untuk kapasitor elektrolitik, probe hitam multimeter mesti disambungkan ke terminal positif kapasitor elektrolitik).
Keputusan eksperimen telah menunjukkan bahawa rintangan penebat kapasitor elektrolitik secara amnya hendaklah beberapa ratus kiloohms atau lebih, manakala rintangan penebat kapasitor lain hendaklah beberapa puluh megaohm atau lebih. Jika rintangan penebat kurang daripada nilai di atas, ia menunjukkan bahawa kebocoran kapasitor tidak sesuai untuk digunakan. Lebih kecil rintangan penebat, lebih teruk kebocoran. Jika rintangan penebat adalah sifar, ia menunjukkan bahawa kapasitor telah rosak.
3. Ciri-ciri utama diod (D) ialah kekonduksian satu arahnya. Multimeter harus mengukur nilai rintangan tertentu dalam arah hadapan dan infiniti dalam arah belakang. Jika nilai rintangan diukur dalam arah songsang, ia menunjukkan bahawa diod telah rosak.
4. Transistor (Q) terdiri daripada dua simpang PN, dan berdasarkan kekonduksian satu arah simpang PN, tapak boleh dibezakan dengan mudah. Tetapkan multimeter kepada julat * 1K ohm, dan kemudian anggap bahawa satu pin transistor ialah tapaknya. Pasangkan kuar hitam multimeter dan sambungkan kuar merah ke dua pin lain secara berasingan. Jika nilai rintangan yang diukur dua kali adalah kecil (rintangan hadapan), dan probe merah disambungkan ke pin yang diandaikan sebagai tapak, dan probe hitam masing-masing disambungkan ke dua pin lain, dengan nilai rintangan yang tinggi (rintangan terbalik), maka andaian adalah betul, dan pin itu ialah tapak. Kerosakan pada transistor terutamanya disebabkan oleh litar terbuka atau pintas, dan kaedah ini boleh dengan mudah menentukan sama ada transistor itu rosak.
