Apakah mikroskop daya atom
Mikroskopi Daya Atom: Teknik eksperimen baharu yang menggunakan daya interaksi antara atom dan molekul untuk memerhati ciri mikroskopik pada permukaan objek. Ia terdiri daripada probe bersaiz nanometer yang dipasang pada julur fleksibel bersaiz mikron yang dimanipulasi secara sensitif. Apabila probe sangat hampir dengan sampel, daya antara atom di hujungnya dan atom pada permukaan sampel menyebabkan julur bengkok dari kedudukan asalnya. Imej tiga dimensi dibina semula daripada jumlah sisihan atau kekerapan getaran probe semasa ia mengimbas sampel. Ia adalah mungkin untuk mendapatkan secara tidak langsung topografi atau komposisi atom permukaan sampel.
Ia digunakan untuk mengkaji struktur permukaan dan sifat bahan dengan mengesan daya interaksi interatomik yang sangat lemah antara permukaan sampel yang akan diukur dan unsur sensitif daya kecil. Sepasang julur mikro, yang sangat sensitif terhadap daya lemah, dipasang pada satu hujung, dan hujung kecil di hujung yang lain dibawa dekat dengan sampel, yang kemudiannya berinteraksi dengannya, dan daya menyebabkan julur mikro untuk mengubah bentuk atau mengubah keadaan pergerakan mereka.
Apabila mengimbas sampel, sensor mengesan perubahan ini dan mendapatkan maklumat mengenai pengagihan daya, dengan itu mendapatkan maklumat mengenai struktur permukaan dengan resolusi skala nano. Ia terdiri daripada mikrocantilever dengan hujung jarum, peranti pengesan gerakan mikrocantilever, gelung maklum balas untuk memantau pergerakannya, peranti pengimbasan seramik piezoelektrik untuk mengimbas sampel dan sistem pemerolehan, paparan dan pemprosesan imej dikawal komputer. Pergerakan mikrocantilever boleh dikesan melalui kaedah elektrik seperti pengesanan arus terowong atau kaedah optik seperti pesongan rasuk dan interferometri, dsb. Apabila hujung jarum dan sampel cukup rapat antara satu sama lain dan terdapat tolakan bersama jarak dekat antara mereka, tolakan boleh dikesan untuk mendapatkan permukaan tahap atom resolusi imej, dan secara amnya resolusi tahap nanometer. Pengukuran AFM sampel tidak mempunyai keperluan khas, dan boleh digunakan untuk mengukur permukaan pepejal dan sistem penjerapan.
