Apakah had lebar jalur osiloskop?
Dalam butang saluran instrumen, anda menekan butang CH1, menu harus mempunyai pilihan untuk mengehadkan lebar jalur.
Ia digunakan terutamanya untuk menapis bunyi frekuensi tinggi, menghidupkan had lebar jalur, kemudian lebar jalur osiloskop akan dihadkan kepada 20MHz dan bukan lagi lebar jalur nominal. Ini bagus untuk mengukur isyarat amplitud kecil dan isyarat dengan gangguan yang tinggi.
Kedua-dua jenis tindak balas frekuensi osiloskop masing-masing mempunyai kelebihan dan kekurangan masing-masing. Osiloskop dengan tindak balas frekuensi rata maksimum mempunyai kurang pengecilan isyarat dalam jalur berbanding osiloskop dengan tindak balas frekuensi Gaussian, yang bermaksud bahawa yang pertama boleh mengukur isyarat dalam jalur dengan lebih tepat. Walau bagaimanapun, osiloskop dengan tindak balas frekuensi Gaussian mempunyai kurang pengecilan untuk isyarat luar jalur berbanding osiloskop dengan tindak balas rata maksimum, yang bermaksud bahawa osiloskop dengan tindak balas frekuensi Gaussian biasanya mempunyai masa kenaikan yang lebih cepat untuk spesifikasi lebar jalur yang sama. Walau bagaimanapun, kadangkala pengecilan besar isyarat luar jalur boleh membantu untuk menghapuskan komponen frekuensi tinggi yang boleh menyebabkan pengaliasan mengikut kriteria Nyquist (fMAX < fS).
Sama ada anda mempunyai osiloskop dengan tindak balas frekuensi Gaussian, tindak balas frekuensi rata maksimum atau sesuatu di antaranya, kami menganggap lebar jalur osiloskop sebagai frekuensi terendah di mana isyarat input melalui osiloskop dan dilemahkan sebanyak 3 dB. Tindak balas lebar jalur dan frekuensi osiloskop boleh diukur dengan menyapu dengan penjana isyarat gelombang sinus. Pengecilan isyarat pada frekuensi dB -3 osiloskop boleh ditukar kepada ralat amplitud kira-kira -30%. Oleh itu, kami tidak mempunyai kemewahan untuk membuat ukuran yang tepat pada isyarat yang komponen frekuensi utamanya hampir dengan lebar jalur osiloskop.
Berkait rapat dengan spesifikasi lebar jalur osiloskop ialah parameter masa kenaikannya. Osiloskop dengan tindak balas frekuensi Gaussian mempunyai masa meningkat kira-kira {{0}}.35/fBW, diukur pada skala 10% hingga 90% dan osiloskop dengan tindak balas frekuensi rata maksimum mempunyai spesifikasi masa naik yang biasanya dalam julat 0.4/fBW, yang berbeza-beza mengikut kecuraman ciri pusingan frekuensi osiloskop. Walau bagaimanapun, perlu diingat bahawa masa kenaikan osiloskop bukanlah kelajuan tepi terpantas yang boleh diukur dengan tepat oleh osiloskop, sebaliknya kelajuan tepi terpantas yang boleh diperolehi oleh osiloskop apabila isyarat input mempunyai masa kenaikan tak terhingga secara teorinya ( 0 ps). Walaupun dalam praktiknya parameter teori ini adalah mustahil untuk diukur kerana penjana nadi tidak dapat mengeluarkan nadi dengan tepi pantas yang tidak terhingga, kita boleh mengukur masa naik osiloskop dengan memasukkan nadi dengan kelajuan tepi iaitu tiga hingga lima kali spesifikasi masa kenaikan osiloskop. .
Lebar Jalur Osiloskop Diperlukan untuk Aplikasi Digital
Pengalaman memberitahu kami bahawa lebar jalur osiloskop hendaklah sekurang-kurangnya 5 kali lebih tinggi daripada kadar jam digital terpantas sistem yang sedang diuji. Jika kita memilih osiloskop yang memenuhi kriteria ini, maka osiloskop akan dapat menangkap harmonik ke-5 isyarat yang sedang diuji dengan pengecilan isyarat yang minimum. Harmonik ke-5 isyarat adalah penting dalam menentukan bentuk keseluruhan isyarat digital. Walau bagaimanapun, formula mudah ini tidak mengambil kira komponen frekuensi tinggi sebenar yang terkandung dalam tepi cepat naik dan turun jika ukuran tepat tepi berkelajuan tinggi diperlukan. Formula: fBW Lebih besar daripada atau sama dengan 5 x fclk Cara yang lebih tepat untuk menentukan lebar jalur osiloskop adalah berdasarkan frekuensi tertinggi yang terdapat dalam isyarat digital, dan bukannya kadar jam maksimum. Kekerapan tertinggi isyarat digital bergantung pada kelajuan tepi terpantas dalam reka bentuk. Oleh itu, kita perlu menentukan masa naik dan turun bagi isyarat terpantas dalam reka bentuk. Maklumat ini biasanya boleh diperoleh daripada spesifikasi yang diterbitkan bagi peranti yang digunakan dalam reka bentuk.
