Penggunaan Mikroskop Metalografik merentas Industri
Mikroskop metalografi berasal dari metalografi. Ia adalah instrumen profesional yang digunakan terutamanya untuk memerhati struktur metalografi, khususnya untuk memeriksa struktur mikro metalografi objek legap seperti logam dan mineral. Spesimen legap ini tidak boleh diperhatikan dengan mikroskop cahaya penghantaran biasa. Oleh itu, perbezaan utama antara mikroskop metalografi dan mikroskop biasa ialah yang pertama menggunakan pencahayaan cahaya yang dipantulkan manakala yang kedua bergantung pada cahaya yang dihantar.
Mikroskop metalografi mempunyai kestabilan yang sangat baik, pengimejan yang tajam, resolusi tinggi, dan bidang pandangan rata yang besar. Pemerhatian boleh dilakukan bukan sahaja melalui kanta mata, tetapi juga sebagai imej dinamik masa nyata pada skrin komputer atau kamera digital. Imej yang ditangkap boleh diedit, disimpan dan dicetak. Ia digunakan secara meluas dalam perkakasan, keratan metalografik, komponen IC, LCD, LED dan bidang lain.
Terdapat lima jenis kanta objektif untuk mikroskop metalografi: objektif pendarfluor medan terang EPI, objektif medan terang/gelap BD, objektif jarak kerja super panjang SLWD, objektif jarak kerja panjang lanjutan ELWD dan objektif dengan gelang pembetulan. Dalam industri perkakasan, objektif medan terang/gelap BD boleh dipilih untuk memerhati bahagian perkakasan yang sangat reflektif. Sebagai contoh, apabila memerhati dan mengukur zarah konduktif dalam industri LCD, mikroskop metalografi boleh dilengkapi dengan DIC untuk mendapatkan lebih banyak pandangan stereoskopik. Ini ialah teknik mikroskopi cahaya terkutub menggunakan penapis berpasangan. Ia mengubah hala laluan cahaya mengikut sifat birefringence. Ambil perhatian bahawa cahaya terkutub biasanya hanya berfungsi apabila digabungkan dengan DIC dan mempunyai nilai terhad apabila digunakan secara bersendirian.
Apabila mikroskop metalografik digunakan untuk pengukuran dan analisis ciri-ciri kecil pada komponen IC dan bahagian metalografik, perisian pengukuran pintar Iview‑DIMS boleh diguna pakai. Ia memberikan ketepatan tinggi dan berkesan mengurangkan ralat pengukuran manual. Perisian ini mesra pengguna dan menyokong pengukuran dan analisis titik, garisan, lengkok, jejari, diameter, sudut dan dimensi geometri yang lain. Ia juga boleh menangkap imej ukuran dan menjana laporan ujian tersuai.
